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米思米經(jīng)濟(jì)型與市場(chǎng)流通品※的規(guī)格性能差異

項(xiàng)目	米思米標(biāo)準(zhǔn)品	米思米經(jīng)濟(jì)型	市場(chǎng)流通品※
材料	日本原產(chǎn) 黃銅	中國(guó) 磷青銅	中國(guó) 洋白銅
針頭部表面處理	鍍銠	鍍金	鍍鎳
使用壽命	30萬(wàn)次	10萬(wàn)次	5-8萬(wàn)次

耐磨損性能比較

?探針頭部的10萬(wàn)次耐久試驗(yàn)：

市場(chǎng)流通品※大幅磨損
米思米經(jīng)濟(jì)型僅有些許磨損

負(fù)載及導(dǎo)電性比較

?鍍銠、鍍金的負(fù)載及電阻在使用20萬(wàn)次以下沒(méi)有大幅影響
?鍍金工藝的探針頭部與市場(chǎng)流通的鍍鎳品相比，導(dǎo)電性表現(xiàn)優(yōu)秀，電阻值也非常穩(wěn)定

負(fù)載(平均)

單位: N

耐久試驗(yàn)測(cè)試	初始值	1萬(wàn)次	5萬(wàn)次	10萬(wàn)次	20萬(wàn)次
鍍銠	1.873	1.890	1.898	1.908	1.957
鍍金	1.936	2.043	2.083	2.044	1.986

負(fù)載測(cè)定結(jié)果

電阻值(平均)

單位: mΩ

耐久試驗(yàn)測(cè)試	初始值	1萬(wàn)次	5萬(wàn)次	10萬(wàn)次	20萬(wàn)次
鍍銠	37.92	41.91	50.34	66.70	55.65
鍍金	29.53	31.14	30.40	31.95	33.61

電阻值測(cè)定結(jié)果

※市場(chǎng)流通品，系本公司從線(xiàn)上或線(xiàn)下市場(chǎng)隨機(jī)采購(gòu)的同類(lèi)產(chǎn)品
※實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)系本公司檢測(cè)所得，僅供參考

使用場(chǎng)景

測(cè)試探針廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體（IC）及電路板（PCB）
測(cè)試領(lǐng)域，探針被安裝在插座或夾具內(nèi)部，插座或
夾具安置在被測(cè)物和測(cè)試基板的中間，探針連接被
測(cè)物與測(cè)試基板，通過(guò)傳輸一定電流和頻率來(lái)判定
被測(cè)物是否合格。

使用方法

IC測(cè)試探針

為了檢測(cè)半導(dǎo)體IC的性能，使用
彈簧探針。讓探針的頂端針頭與
IC的被測(cè)點(diǎn)(Pad、Ball等)接觸，
尾部針頭與被測(cè)基板觸點(diǎn)接觸，
通過(guò)傳輸一定電流和頻率來(lái)判定
被測(cè)物是否合格。

電路板(PCB)檢測(cè)探針

電路板(PCB)探針一般與套管一起
配合使用，用來(lái)檢測(cè)電路板(光板
PCB)的導(dǎo)通測(cè)試。也可以用于已經(jīng)
貼裝了器件的實(shí)物板(ICT\FCT)檢測(cè)。

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探頭頭部形狀: A型